高速コンバーターなどの組み込みメモリテスト
２．組み込み型メモリのテスト構成
目次：
２．１ アルゴリズミックパターン例
２．２ テスタ構成例
- RF変調波形のEVM評価法
- EVMの定義
- EVMの基本測定例
- ATEによる側定応用例１
- ATEによる側定応用例２
- EVMの不良解析フロー
- RFデバイスの新しいEVM測定手法
- RFのCAEによるモデルの評価・量産テスト
- RFパワーアンプのモデルによるEVM測定手法
- RFパワーアンプの伝達関数のモデル
- RFパワーアンプの伝達関数の測定例
- RFのCAEによるモデルと変復調方式の比較
- ACテストの基礎 アナログ法
- ピーク値、平均値、実効値
- 波形の比較を定義
- デシベルの定義
- ゲイン
- ゲイン：入出力電圧比
- 電圧メータ：VU計
- ゲイン測定
- 低レベル入力のゲイン測定
- 周波数特性測定（入力固定）
- 周波数特性測定（出力固定）
- S/N比測定
- S/N比測定（聴感補正）
- 歪率測定（全高調波：周波数選択）
- 歪率測定（全高調波：周波数可変）
- 混変調歪測定（CCIF法）
- クロストーク測定
- リンク
- リンク集1
